APT 6000

統合型LEDワェーハ/チップ プロービングとテスト装置

LED chip & wafer probing and testing system
プロバーとテスタが完全に統合され、効果が大幅向上。
積分球が背景光干渉を完全防止!

    

■ 高剛度のスクリューを使用、摩擦による摩滅が減少

■ アクティブニード、ニードルマークのサイズを一致させ、ニードルの寿命をされに延長

■ 録音型警報システムが要望に応じで様々なサイレン音を録音できます。

■ 外観サイズが縮小し、工場の利用率を向上

■ 積分球直接受光構成

■ ワェーハ/チップともプロービング可能