VPT 810C

統合型VCSELウェーハプロービングとテストシステム

Integrated VCSEL wafer probing and testing system
 

    ✹自動ウェーハプローブ位置合わせシステム

    ✹短パルス(20 A/30 V/100ns)及び直流(1 A/45 V)試験をサポートする

    ✹トリプル統合測定設計(LIV+NF+FF)

    ✹ウェーハサイズ:最大8インチ

    ✹温度範囲: -40°Cから200°Cまで

    ✹SEMI S2設計に準拠


       
  • 産業別Markets

    光電産業/光通信産業

  • アプリ別Applications

    ウェーハテスト

  • 材料別Materials

    VCSEL


 

統合型VCSELウェーハプロービングとテストシステム

統合型VCSELテストシステムは主に切断前のVCSELウェーハ検出に応用され、光電(LIV)測定、近場(Near Field)及び遠場(Far Field)試験を含む3つの統合試験モジュールを備え、そしてナノ秒レベルの短パルス試験を提供することができ、このVCSEL測定モデルは異なる電流源と温度制御規格を組み合わせて、全方位VCSELの特性検出需要を満たすことができる。

 

 

テスト仕様

 


短パルス試験

 



温度制御範囲-40℃~200℃

 



ウェーハサイズ:最大8インチ

 

 

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